TSD系列温度冲击试验箱
一、主要技术指标

  1. 工作室尺寸:1000D×1000W×1000H mm,内容积约1000L
  2. 外形尺寸:约3400D×2150W×2170H mm,不含控制器、测试孔等突出部分。
  3. 冲击范围:-55℃~+150℃,带载50kg铝锭
  4. 暴露时间:30min
  5. 恢复时间:≤5min
  6. 转换时间:≤15s
  7. 温度波动度:≤±0.5℃、空载
  8. 温度均匀度:≤2℃、空载
  9. 温度偏差:≤±2℃、空载
  10. 高温室预热:温度范围:+60℃~+200℃,温度上升时间:常温→+200℃≤40min
  11. 低温室预冷:温度范围:0℃~-70℃,温度下降时间:常温→-65℃≤50min
  12. 功率:约125kW
  13. 噪音:≤75dB(A),距离箱体正前方1米远处距地面1.2米高时测量。
  14. 重量:2400Kg
 
二、产品执行标准

  1. GB/T 2423.1-2008 试验A:低温试验
  2. GB/T 2423.2-2008 试验B:高温试验
  3. GB/T 2423.22-2002 试验N:温度变化试验
  4. GJB150.3A-2009 高温试验
  5. GJB150.4A-2009 低温试验
  6. GJB150.5A-2009温度冲击试验
  7. GJB360A-1996 电子及电器元件试验方法 方法107 条件A、B、F
  8. GB/T10589-2008 低温试验箱技术条件
  9. GB/T11158-2008 高温试验箱技术条件
  10. GB T5170.1-2008 电工电子产业环境试验设备检验方法 总则
  11. GB/T5170.2-2008电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备

卧式

立式

TSD系列温度冲击试验箱
TSD 系列 温度冲击试验箱 一、主要技术指标 工作室尺寸:1000D1000W1000H mm,内容积约1000L 外形尺寸:约3400D2150W2170H mm,不含控制器、测试孔等突出部分。 冲击范围:-55℃~+150℃,带载...
扫一扫
关注【苏试试验】
TOP